申请/专利权人：上海御渡半导体科技有限公司

申请日：2023-10-08

公开（公告）日：2024-01-09

公开（公告）号：CN117368706A

主分类号：G01R31/3187

分类号：G01R31/3187

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.01.26#实质审查的生效;2024.01.09#公开

摘要：一种BIST测试装置及其检测方法，用于检测N个待测DUT模块，待测DUT模块包括N个待测DUT单元，包括处理计算模块CVP、DA模块、驱动模块和电源模块；驱动模块给待测DUT模块提供驱动信号，电源模块给待测DUT模块提供供电电源；DA模块的控制IO接口与处理计算模块CVP的控制IO接口相连，用于通过AD单元传递pattern信号给驱动模块和电源模块，控制驱动模块发出驱动信号给待测DUT和控制电源模块给待测DUT供电；驱动模块的通讯接口与处理计算模块CVP的通讯接口相连，处理计算模块CVP根据测试结果对比判断待测DUT模块中的N个待测DUT是否通过测试。因此，本发明降低了装置复杂度，以及减少后期维护等环节中的时间。

主权项：1.一种BIST测试装置，用于检测N个待测DUT模块，所述待测DUT模块包括N个待测DUT单元，所述待测DUT模块包括N个电源输入接口电源输入0,电源输入1,…电源输入N和N个IO输入接口IO输入0,IO输入1,…IO输入N，每个所述待测DUT单元包括一个电源输入接口和一个IO输入接口；其特征在于，包括处理计算模块CVP、DA模块、驱动模块和电源模块；所述处理计算模块CVP包括一个通讯接口和一个控制IO接口；所述DA模块包括N个AD单元AD_0,AD_1,…AD_N和一个通讯接口，每一个AD单元包括一个输出接口VOUT；所述电源模块包括N个TRACK输入接口TRACK输入0,TRACK输入1…TRACK输入N和N个电源输出接口电源输入0,电源输入1,…电源输入N；所述驱动模块包括N个IO输出接口驱动IO输出0,驱动IO输出1,…驱动IO输出N、BANK调压接口和通讯接口；所述N个AD单元AD_0,AD_1,…AD_N的输出Vout分别连接所述电源模块的N个TRACK输入接口TRACK输入0,TRACK输入1…TRACK输入N，以及所述驱动模块的BANK调压接口；所述待测DUT模块的N个电源输入接口电源输入0,电源输入1,…电源输入N分别和所述电源模块的N个输出接口输出0,输出1,…输出N相连，所述待测DUT模块的N个IO输入接口IO输入0,IO输入1,…IO输入N分别连接所述驱动模块的N个IO输出接口驱动IO输出0,驱动IO输出1,…驱动IO输出N；其中，所述驱动模块给待测DUT模块提供驱动信号，所述电源模块给待测DUT模块提供供电电源；所述DA模块的控制IO接口与处理计算模块CVP的控制IO接口相连，用于通过所述AD单元传递pattern信号给驱动模块和电源模块，控制所述驱动模块发出驱动信号给待测DUT和控制电源模块给待测DUT供电；所述驱动模块的通讯接口与处理计算模块CVP的通讯接口相连，所述处理计算模块CVP根据测试结果对比判断所述待测DUT模块中的N个待测DUT是否通过测试。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海御渡半导体科技有限公司 一种BIST测试装置

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