申请/专利权人：成都玖光科技有限公司

申请日：2023-08-11

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN220626441U

主分类号：G01R1/04

分类号：G01R1/04;G01R31/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权

摘要：本实用新型属于集成电路芯片检测技术领域，尤其涉及一种可调节式集成电路芯片测试台，包括测试台和支撑腿，所述测试台的上表面设置有检测装置，所述测试台的上方设置有调节抓取装置，所述调节抓取装置包括调节单元、移动单元、升降单元和抓取单元。该可调节式集成电路芯片测试台，通过升降单元中下移的升降杆带动橡胶吸盘下移与芯片表面接触，升降杆继续下移，从而对橡胶吸盘产生向上的力，从而将橡胶吸盘内部的空气挤出，从而使橡胶吸盘将芯片吸取住，拿取更方便，在橡胶吸盘向上排挤空气时，滑杆在滑柱的内部向上移动，进而挤压缓冲弹簧，从而将升降杆下压的压力进行一定程度的缓冲，避免下压的力过大将芯片压坏。

主权项：1.一种可调节式集成电路芯片测试台，包括测试台1和支撑腿2，四根所述支撑腿2分别固定连接于测试台1的下表面四角，其特征在于：所述测试台1的上表面设置有检测装置，所述测试台1的上方设置有调节抓取装置；所述检测装置包括检测盒301、警报灯302、放置盒303、存储盒304，所述检测盒301固定安装于测试台1的上表面中心，所述警报灯302安装于检测盒301的正面中心，所述放置盒303放置于测试台1的上表面左侧，所述存储盒304放置于测试台1的上表面右侧。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 成都玖光科技有限公司 一种可调节式集成电路芯片测试台

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