申请/专利权人：上海天新纳米技术有限公司

申请日：2023-08-18

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN220625199U

主分类号：G01B11/04

分类号：G01B11/04;B65H23/26;G01B21/06;G01B11/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权

摘要：本实用新型公开了一种超薄纳米晶带材的多功能检测装置，包括工作台、支撑板和驱动马达，所述工作台的上表面一侧设置有支撑板，所述支撑板的顶部一侧连接有转轴，所述驱动马达设置于支撑板远离转轴的一侧，所述驱动马达的输出端与转轴相连接，所述转轴的外壁套接有卷料筒，所述支撑板远离工作台边缘的一侧设置有滑槽，所述滑槽的一侧边缘设置有一号电动伸缩杆，所述移动杆的顶端设置有一号导向辊，所述U形环的顶部设置有红外传感器，所述固定架的顶部设置有控制器。当红外传感器检测到超薄纳米晶带材偏移后，将信号传输到控制器，控制器控制一号电动伸缩杆推动移动杆对带材进行调正，避免超薄纳米晶带材的传导过程中发生偏移从而影响检测。

主权项：1.一种超薄纳米晶带材的多功能检测装置，包括工作台（1）、支撑板（2）和驱动马达（4），其特征在于：所述工作台（1）的上表面一侧设置有支撑板（2），所述支撑板（2）的顶部一侧连接有转轴（3），所述驱动马达（4）设置于支撑板（2）远离转轴（3）的一侧，所述驱动马达（4）的输出端与转轴（3）相连接，所述转轴（3）的外壁套接有卷料筒（5），所述支撑板（2）远离工作台（1）边缘的一侧设置有滑槽（6），所述滑槽（6）的内部嵌接有滑块（7），所述滑块（7）的顶部连接有移动杆（8）。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海天新纳米技术有限公司 一种超薄纳米晶带材的多功能检测装置

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