申请/专利权人：杭州领策科技有限公司

申请日：2023-06-13

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN220611404U

主分类号：B07C5/36

分类号：B07C5/36;B07C5/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权

摘要：本申请公开了一种芯片测试系统。芯片测试系统包括分选机、测试机和分选控制装置。分选机包括分选通信口，以及与分选通信口一一对应的第一存储单元，第一存储单元存储所对应分选通信口的端口标识；测试机包括与分选通信口一一对应的测试站；分选控制装置包括与测试站一一对应的通信模块，通信模块包括第一通信口、第二存储单元和控制模块，在同一个通信模块中，第二存储单元存储通信模块对应的测试站的测试站标识，第一通信口连接目标分选通信口，控制模块连接第二存储单元和目标分选通信口的第一存储单元，控制模块从所连接存储单元中读取到匹配的测试站标识与端口标识时，控制第一通信口与目标分选通信口连通。可以减少芯片检测事故。

主权项：1.一种芯片测试系统，其特征在于，所述芯片测试系统包括：分选机，包括分选通信口，以及与所述分选通信口一一对应的第一存储单元，所述第一存储单元存储所对应分选通信口的端口标识；测试机，包括与所述分选通信口一一对应的测试站；分选控制装置，包括与所述测试站一一对应的通信模块，所述通信模块包括第一通信口、第二存储单元和控制模块，在同一个通信模块中，第二存储单元存储通信模块对应的测试站的测试站标识，第一通信口连接目标分选通信口，控制模块连接第二存储单元和所述目标分选通信口的第一存储单元，控制模块从所连接存储单元中读取到匹配的测试站标识与端口标识时，控制第一通信口与所述目标分选通信口连通。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 杭州领策科技有限公司 芯片测试系统

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