申请/专利权人：哈尔滨工程大学

申请日：2019-09-11

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN110717307B

主分类号：G06F30/392

分类号：G06F30/392;G06F30/398

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权;2020.02.21#实质审查的生效;2020.01.21#公开

摘要：本发明公开了一种基于边界扫描电路的SIP器件可测试性方法。具体包括步骤1：基于边界扫描可测试性技术建立系统级封装器件结构的基本可测试性电路结构；步骤2：基于边界扫描可测试性方法对电路中非JTAG器件的测试改进设计；步骤3：基于边界扫描可测试性方法对器件中电路网络的测试改进设计。本发明提高对封装器件的覆盖率，提高封装系统中电路网络的覆盖率，从而对系统级封装器件的可测试性进行评估，方便对系统内的电路进行调试，及高效的检测封装系统内的电路的完备性。

主权项：1.一种基于边界扫描电路的SIP器件可测试性方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：基于边界扫描可测试性技术建立系统级封装器件结构的基本可测试性电路结构；步骤2：基于边界扫描可测试性方法对电路中非JTAG器件的测试改进设计；对封装系统电路中的非JTAG器件按照功能进行逻辑簇测试，采用环绕处理、利用带有JTAG接口的器件的资源对非JTAG器件进行测试，完成对非JTAG器件的输入控制和输出检测，将非JTAG器件的输入管脚与边界扫描器件的测试系统中的输出管脚相连，形成一个边界扫描链，之后通过扫描链中的边界扫描器件的输出端口将测试的结果数据输出，并在非JTAG器件的测试系统中加入相应的控制器，以此来完成对非JTAG器件的扫描测试；步骤3：基于边界扫描可测试性方法对器件中电路网络的测试改进设计。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 哈尔滨工程大学 一种基于边界扫描电路的SIP器件可测试性方法

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