申请/专利权人：深圳市赛弥康电子科技有限公司

申请日：2023-11-27

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117290171B

主分类号：G06F11/22

分类号：G06F11/22;G06F11/26

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权;2024.01.12#实质审查的生效;2023.12.26#公开

摘要：本申请提供了一种内存芯片测试设备及方法，通过确定所述数据测试时间内的内存芯片临界区间值，确定所述内存芯片数据容量的内存芯片鉴别系数，从而确定所述数据测试时间的内存芯片汇聚量，根据所述数据测试时间对所述内存芯片汇聚量进行容量分段间隙量化，得到内存芯片间隙因子，对所有的区间温度均值进行温度邻近差异化，得到区间温度邻近差异系数，根据所述内存芯片间隙因子和所述区间温度邻近差异系数确定所述内存芯片汇聚量的内存芯片容量纠察量，根据所述内存芯片容量纠察量和所述内存芯片汇聚量值确定内存芯片测试容量值，将所述内存芯片测试容量值作为内存芯片的实际容量值，可提高内存芯片测试设备在测试内存芯片容量时的准确度。

主权项：1.一种内存芯片测试方法，其特征在于，包括如下步骤：启动内存芯片容量测试，获取内存芯片的数据测试时间，进而确定内存芯片数据容量；确定所述数据测试时间内的内存芯片临界区间值，其中，内存芯片临界区间值是反应内存芯片在数据测试时间内读取速度变化范围的大小的值；确定所述内存芯片数据容量的内存芯片鉴别系数，其中，内存芯片鉴别系数是反应内存芯片中数据密集度程度的参数；根据所述内存芯片临界区间值和所述内存芯片鉴别系数确定所述数据测试时间的内存芯片汇聚量，根据所述数据测试时间对所述内存芯片汇聚量进行容量分段间隙量化，得到内存芯片间隙因子，其中，容量分段间隙量化是将内存芯片容量测试设备在所有的数据测试时间段内测量的内存芯片的容量变化的平均值设置为内存芯片间隙因子；获取内存芯片在所述数据测试时间内的多个区间温度均值，对所有的区间温度均值进行温度邻近差异化，得到区间温度邻近差异系数，其中，温度邻近差异化是按照所有相邻的区间温度均值的差值的平均值与所有的区间温度均值的平均值对区间温度邻近差异系数进行设置，根据所述内存芯片间隙因子和所述区间温度邻近差异系数确定所述内存芯片汇聚量的内存芯片容量纠察量，其中，内存芯片容量纠察量是反应内存芯片汇聚量补偿程度的参数；根据所述内存芯片容量纠察量和所述内存芯片汇聚量确定内存芯片测试容量值，将所述内存芯片测试容量值作为内存芯片的实际容量值；其中，确定所述数据测试时间内的内存芯片临界区间值具体包括：根据预设的时间分割系数对所述数据测试时间进行平均分割，得到多个数据测试时间段；确定每个数据测试时间段内的测试平均速度；根据所有的数据测试时间段内的测试平均速度确定内存芯片临界区间值；其中，确定所述内存芯片数据容量的内存芯片鉴别系数具体包括：根据所述内存芯片数据容量确定内存芯片数据密度；根据所述内存芯片数据密度与预设的内存芯片饱和数据密度确定内存芯片鉴别系数。

全文数据：

权利要求：

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