申请/专利权人：太原理工大学

申请日：2023-07-27

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN220649382U

主分类号：G01B11/12

分类号：G01B11/12;G01B11/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权

摘要：一种用于精密仪器的序列孔径三维检测系统，涉及精密仪器检测技术领域。用于精密仪器的序列孔径三维检测系统包括相机、设置在相机的主镜头前的可编码的透明液晶显示器组件，以及数据终端，可编码的透明液晶显示器组件包括arduino和arduino控制的透明液晶显示器，透明液晶显示器设置在arduino中间且在arduino的编码下能产生不同位置、不同形状和不同大小的通光孔。上述用于精密仪器的序列孔径三维检测系统通过arduino编码透明液晶显示器通光孔的位置或形状或大小对物体进行多次拍摄获得光线集合合成图像，实现一台相机的固定位置拍摄在几秒内测量精密零件的3D几何形状。

主权项：1.一种用于精密仪器的序列孔径三维检测系统，其特征在于，其包括相机、设置在所述相机的主镜头前的可编码的透明液晶显示器组件，以及连接至所述可编码的透明液晶显示器组件和所述相机的数据终端，所述可编码的透明液晶显示器组件包括arduino和所述arduino控制的透明液晶显示器，所述透明液晶显示器设置在所述arduino中间且在所述arduino的编码下具有不同位置、不同形状和不同大小的通光孔，所述数据终端连接至所述arduino。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 太原理工大学 一种用于精密仪器的序列孔径三维检测系统

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