申请/专利权人：上海东软载波微电子有限公司

申请日：2023-12-26

公开（公告）日：2024-03-26

公开（公告）号：CN117766012A

主分类号：G11C29/08

分类号：G11C29/08;G11C29/56;G11C17/16

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.12#实质审查的生效;2024.03.26#公开

摘要：本发明公开了一种基于内置E‑Fuse存储器的芯片测试方法、芯片，该方法包括：在进入OS测试后，检查E‑Fuse是否已完成烧录；如果未完成烧录，则对芯片进行基础校准，确定待烧录数据，将所述待烧录数据烧录至E‑Fuse；如果已完成烧录、或者烧录所述待烧录数据至E‑Fuse后，则进行功能测试。利用本发明方案，可以在ATE量产测试中使内置E‑Fuse存储器的芯片支持重复性测试，实现对不良品的回收测试，从而可以规避误放风险，避免不必要的良率损失。

主权项：1.一种基于内置E-Fuse存储器的芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：在进入OS测试后，检查E-Fuse是否已完成烧录；如果未完成烧录，则对芯片进行基础校准，确定待烧录数据，将所述待烧录数据烧录至E-Fuse；如果已完成烧录、或者烧录所述待烧录数据至E-Fuse后，则进行功能测试。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海东软载波微电子有限公司 基于内置E-Fuse存储器的芯片测试方法、芯片

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