申请/专利权人：四川云海芯科微电子科技有限公司

申请日：2024-03-01

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117809724A

主分类号：G11C29/12

分类号：G11C29/12;G11C29/44

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要：本发明公开了一种基于寿命测试的NANDFlash磨损均衡方法，属于存储技术领域，包括步骤：测试晶粒DIE上每个块的寿命，利用测试结果作为其最大寿命的参考，在磨损均衡设计中，将当前磨损次数与最大可擦写次数值的比例作为磨损均衡设计的参考标准，让所有块的磨损比例保持平均，达到最大化利用其寿命的目的。本发明可以延长硬盘的使用寿命。

主权项：1.一种基于寿命测试的NANDFlash磨损均衡方法，其特征在于，包括以下步骤：测试晶粒DIE上每个块的寿命，利用测试结果作为其最大寿命的参考，在磨损均衡设计中，将当前磨损次数与最大可擦写次数值的比例作为磨损均衡设计的参考标准，让所有块的磨损比例保持平均，达到最大化利用其寿命的目的。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 四川云海芯科微电子科技有限公司 基于寿命测试的NAND Flash磨损均衡方法

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