申请/专利权人：安徽同超科技有限公司

申请日：2022-02-11

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN114619137B

主分类号：B23K26/04

分类号：B23K26/04;B23K26/362;B23K26/70;G06T7/73

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.02#授权;2022.07.01#实质审查的生效;2022.06.14#公开

摘要：一种标刻补偿函数的获取方法、激光标刻方法、系统和存储器。本发明提供的标刻补偿函数的获取方法，基于坐标缩放平移原理，构建待标刻图形在图像坐标系和振镜坐标系之间的坐标变换关系，本发明中，只需要设置简单的激光标准图形，然后根据确定的激光校准图形上的特征点在图像坐标系和振镜坐标系中的坐标对应关系，便可确定激光标刻补偿函数。相对于现有的人工手动对焦方法，本发明操作简单、效率高，且精确可靠。

主权项：1.一种激光标刻方法，其特征在于，首先获取标刻补偿函数，标刻补偿函数的获取方法，包括以下步骤：SA1、确定激光校准图形，确定激光校准图形的第一特征点A1、第二特征点A2、第三特征点A3和第四特征点A4；将第一特征点A1和第二特征点A2的连线记作第一直线，将第三特征点A3和第四特征点A4的连线记作第二直线，第一直线垂直于第二直线；SA2、在振镜坐标系中设置所述的激光校准图形，且第一直线与振镜坐标系的X轴平行或者重合，第二直线与振镜坐标系的Y轴平行或者重合，获取所述激光校准图形第一特征点A1、第二特征点A2、第三特征点A3和第四特征点A4在振镜坐标系下的坐标，分别记作m1xm1,ym1、m2xm2,ym2、m3xm3,ym3和m4xm4,ym4；mixmi,ymi中的mi表示第i个特征点Ai在振镜坐标系中的标记符号，xmi表示第i个特征点Ai在振镜坐标系中的横坐标，ymi表示，第i个特征点Ai在振镜坐标系中的纵坐标，i＝1、2、3、4；SA3、将激光器对准预标刻区域标刻激光校准图形，通过相机采集绘制有激光校准图形的图片即相机采样图片；SA4、根据相机采样图片获取激光校准图形的第一特征点A1、第二特征点A2、第三特征点A3和第四特征点A4在图像坐标系中的坐标，即p1xp1,yp1、p2xp2,yp2、p3xp3,yp3和p4xp4,yp4；SA5、计算激光校准图形在图像坐标系和振镜坐标系中的X轴缩放比例kx和Y轴缩放比例ky：kx＝dm1,m2dp1,p2；ky＝dm3,m4dp3,p4；其中，dm1,m2、dp1,p2、dm3,m4、dp3,p4表示距离； SA6、获取振镜坐标系中的激光校准图形上的特征点A的坐标mAxmA,ymA和图像坐标系中的激光校准图形上的特征点A的坐标pAxpA,ypA，计算X轴偏移量bx和Y轴偏移量by；bx＝xmA-kx×xpA；by＝ymA-ky×ypA；SA7、构建激光标刻补偿函数：xmn＝kx×xpn+bx；ymn＝ky×ypn+by；将相机采集的待标刻图形记作P，将待标刻图形P变换到振镜坐标系下的预期图形记作P’；xpn,ypn表示待标刻图形P上的第n个像素点在图像坐标系中的坐标，xmn,ymn表示预期图形P’上与待标刻图形P上的第n个像素点对应的像素点在振镜坐标系中的坐标；所述激光标刻方法包括以下步骤：SB1、相机采集待标刻图形，获取待标刻图形中各像素点在图像坐标系中的坐标值，将待标刻图形中第k个像素点在图像坐标系中的坐标值记作xpk,ypk，1≤k≤K，K表示待标刻图形中的像素点总数量；SB2、结合激光标刻补偿函数获取待标刻图形中各像素点在振镜坐标系中的坐标值，将待标刻图形中第k个像素点在振镜坐标系中的坐标值记作xmk,ymk，xmk＝kx×xpk+bx，ymk＝ky×ypk+by；激光标刻补偿函数根据所述的标刻补偿函数的获取方法获得；SB3、结合坐标点集合在振镜坐标系中构建标刻模板，并结合标刻模板在标刻对象上蚀刻待标刻图形。

全文数据：

权利要求：

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