申请/专利权人:长江存储科技有限责任公司
申请日:2020-08-04
公开(公告)日:2024-04-09
公开(公告)号:CN111952317B
主分类号:H10B43/35
分类号:H10B43/35;H10B43/27
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.04.09#授权;2020.12.04#实质审查的生效;2020.11.17#公开
摘要:本发明提供一种三维存储器及其制备方法。三维存储器的制备方法包括:提供半导体器件;采用第一温度对所述半导体器件进行第一热处理,以使所述半导体器件致密化释放应力,其中,所述半导体器件进行第一热处理的时间为第一时间;在进行第一热处理后的所述半导体器件上形成沟道孔。本发明解决了由于半导体器件上的应力不均匀,在半导体器件上形成沟道孔之后,会对沟道孔的侧壁形成损坏,进而影响三维存储器的电性能的技术问题。
主权项:1.一种三维存储器的制备方法,其特征在于,包括:提供半导体器件;所述半导体器件包括衬底与设于所述衬底上的堆叠结构,所述堆叠结构为绝缘层与栅极牺牲层交替层叠的叠层;采用第一温度对所述半导体器件进行第一热处理,以使所述半导体器件致密化释放应力,其中,所述半导体器件进行第一热处理的时间为第一时间;在进行第一热处理后的所述半导体器件上形成沟道孔。
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权利要求:
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