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【发明授权】一种模拟电路单粒子瞬态效应的测试表征方法_中国科学院新疆理化技术研究所_202110273437.2 

申请/专利权人:中国科学院新疆理化技术研究所

申请日:2021-03-09

公开(公告)日:2024-04-09

公开(公告)号:CN113156302B

主分类号:G01R31/316

分类号:G01R31/316

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.09#授权;2021.08.27#实质审查的生效;2021.07.23#公开

摘要:本发明公开了一种模拟电路单粒子瞬态效应的测试表征方法,采用SET幅值‑宽度、幅值概率密度及分布、含有触发阈值参数的SET截面三种方法,建立了完整的模拟电路SET表征方法,采用该方法不仅能够描述模拟电路SET的全部特性,而且解决了模拟电路SET阈值不统一的特殊问题。具有SET特性完整、通用性强、可统计量化的特点。

主权项:1.一种模拟电路单粒子瞬态效应的测试表征方法,其特征在于,包括以下步骤;a、基于数字示波器、单粒子测试板、直流电源、程控计算机建立测试系统;b、在激光或重离子条件下采用步骤a建立的测试系统进行摸底试验,即俘获SET波形,待测电路SET的幅值和宽度;c、将单粒子测试电路置于重离子试验装置下,根据步骤b俘获SET幅值和宽度的典型值设置示波器的量程、触发阈值、采样数量;d、设置好示波器的量程、时间参数、每个SET波形的采样点数、触发模式的测试参数后开始进行重离子辐照,SET采样数量满足设定采样数量时停止;e、在横坐标为SET持续时间、纵坐标为SET幅值的条件下,获得SET的幅值-宽度分布;f、确定SET幅值步进,进一步获得SET幅值的概率密度、概率分布;g、基于采集的SET数量、重离子注量、SET幅值概率密度,计算含有触发阈值参数的SET截面-LET关系;所述步骤a具体为:将待测器件焊接在辐照板上,辐照板外接直流电源为器件提供偏置,器件输出端通过SMA接头与示波器连接,计算机通过USB电缆与示波器连接,实现对示波器的控制,所述示波器带宽Bandwidth应满足 WidthMIN为SET最小宽度;所述步骤c中SET采样数量n应满足SET截面的不确定度UCROSS-SECTION的要求UCROSS-SECTION=n-0.62;所述步骤f为将SET最大幅值分成m个等距区间,其中第i个区间的概率密度值为 其中ni为SET出现在第i区间的次数,ntot为SET出现的总数,第i个区间的概率分布值为 所述步骤g的LET下SET截面计算方法为: nVTH为满足触发阈值条件下的单粒子事件发生次数,Φ为粒子注量。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国科学院新疆理化技术研究所 一种模拟电路单粒子瞬态效应的测试表征方法

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