申请/专利权人：北京京东方技术开发有限公司;京东方科技集团股份有限公司

申请日：2023-12-26

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117866762A

主分类号：C12M1/42

分类号：C12M1/42;C12M1/36;C12M1/34;C12M1/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要：本申请公开了检测芯片及检测系统，属于生物技术领域。检测芯片包括检测部，其包括衬底层和检测层，检测层中，检测孔阵列位于检测层基底的背离衬底层的表面，检测孔阵列包括多个盲孔；光电导结构与多个盲孔一一对应，光电导结构内嵌于检测层基底内部且与相应盲孔的盲端间隔相对；多对电极与多个光电导结构一一对应，每对电极通过第一连接端与相应的光电导结构电性连接，每对电极的第二连接端暴露于检测部的外部。该检测芯片将光信号获取、转化及测量进行集成，利于简化检测流程，提高检测效率，提高信号响应速度，且避免使用高光路复杂度和高分辨率的CCD，减少对其他设备的依赖性并降低成本。

主权项：1.一种检测芯片，其特征在于，所述检测芯片包括：检测部100，所述检测部100包括：衬底层11和层叠布置于所述衬底层11的检测层12；所述检测层12包括：检测层基底121、检测孔阵列122、多个光电导结构123、多对电极124；所述检测孔阵列122位于所述检测层基底121的背离所述衬底层11的表面，所述检测孔阵列122包括多个盲孔1220；所述光电导结构123与所述多个盲孔1220一一对应，所述光电导结构123内嵌于所述检测层基底121内部且与相应盲孔1220的盲端间隔相对；所述多对电极124与所述多个光电导结构123一一对应，每对电极124通过第一连接端与相应的光电导结构123电性连接，每对电极124的第二连接端暴露于所述检测部100的外部。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京京东方技术开发有限公司;京东方科技集团股份有限公司 检测芯片及检测系统

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