申请/专利权人：长电科技管理有限公司

申请日：2024-01-04

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117870769A

主分类号：G01D21/02

分类号：G01D21/02;G06F17/11

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要：本发明提供一种基底的有效介电常数与导体的粗糙度的提取方法，该提取方法利用耦合微带线模型的奇模与偶模的特性通过数值计算或者软件仿真直接获得基底的有效介电常数、导体的粗糙度。该方法在无需测量导体的粗糙度即可获得基底的有效介电常数，避免了粗糙度测量不精确对基底的有效介电常数的测量产生的不良影响；并且由于无需采用传统的测量方法，例如切片或者轮廓仪测量粗糙度，大大缩短了测量时间，提高了生产效率。同时，本发明实施例提供的有效介电常数与导体的粗糙度的提取方法还能够解决单端传输线方法在参数提取过程中多解的问题。

主权项：1.一种基底的有效介电常数与导体的粗糙度的提取方法，其特征在于，包括：设置耦合微带线模型，所述耦合微带线模型包括基底、设置在所述基底表面的对称耦合微带线；利用所述耦合微带线模型的奇模特性与偶模特性通过数值计算或者软件仿真直接获得基底的有效介电常数、导体的粗糙度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 长电科技管理有限公司 一种基底的有效介电常数与导体的粗糙度的提取方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD