申请/专利权人：北京天工科仪空间技术有限公司

申请日：2020-05-27

公开（公告）日：2020-09-15

公开（公告）号：CN111667567A

主分类号：G06T17/00(20060101)

分类号：G06T17/00(20060101);G06T19/20(20110101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.11.24#授权;2020.10.13#实质审查的生效;2020.09.15#公开

摘要：本申请涉及电离层观测的相关技术领域，尤其涉及一种电离层三维展示方法和装置。其中，电离层三维展示方法包括：获取检测到的电离层数据；对所述电离层数据进行拆分；基于所述拆分的电离层数据和待展示区域，确定插值点的位置；确定所述插值点的电子密度数据：基于所述插值点的位置和电子密度数据，在虚拟地球的表面进行点云渲染，得到电离层三维展示图像。

主权项：1.一种电离层三维展示方法，其特征在于，包括:获取检测到的电离层数据；对所述电离层数据进行拆分；基于所述拆分的电离层数据和待展示区域，确定插值点的位置；确定所述插值点的电子密度数据：基于所述插值点的位置和电子密度数据，在虚拟地球的表面进行点云渲染，得到电离层三维展示图像。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京天工科仪空间技术有限公司 电离层三维展示方法和装置

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