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【发明公布】一种倒置3μm~4.2μm nBn型InAsSb红外探测器材料及其制备方法_昆明物理研究所_202111350763.5 

申请/专利权人:昆明物理研究所

申请日:2021-11-15

公开(公告)日:2023-05-16

公开(公告)号:CN116130544A

主分类号:H01L31/109

分类号:H01L31/109;H01L31/0304;H01L31/18

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.06.02#实质审查的生效;2023.05.16#公开

摘要:本发明涉及一种倒置3μm~4.2μmnBn型InAsSb红外探测器材料及其制备方法,属于光电子材料与器件技术领域。所述材料的结构从上向下依次为顶电极接触层、吸收层、势垒层、底电极接触层、缓冲层和衬底;采用分子术外延法制备得到。所述材料采用倒置nBn结构,在不增大器件表面漏电流的情况下有效减小器件横向扩散电流,进而降低器件暗电流;所述材料通过设定其中Sb组分的组成,保证吸收波长处于大气窗口的3μm~4.2μm红外中波段;所述材料势垒层采用非故意掺杂AlAs0.08Sb0.92单晶作为材料,构成导带势垒来阻止多数载流子的导电,不存在耗尽区的产生‑复合电流和带间隧穿电流。

主权项:1.一种倒置3μm~4.2μmnBn型InAsSb红外探测器材料,其特征在于:所述材料的结构从上向下依次为顶电极接触层1、吸收层2、势垒层3、底电极接触层4、缓冲层5和衬底6;顶电极接触层1的材料为掺杂硅Si的n型InAs0.91Sb0.09单晶;吸收层2的材料为非故意掺杂的InAs0.91Sb0.09单晶;势垒层3的材料为非故意掺杂AlAs0.08Sb0.92单晶;底电极接触层4的材料为掺杂Si的n型InAs0.91Sb0.09单晶;缓冲层5的材料为非故意掺杂的GaSb;衬底6的材料为掺杂碲Te的n型GaSb。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 昆明物理研究所 一种倒置3μm~4.2μm nBn型InAsSb红外探测器材料及其制备方法

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