申请/专利权人：成都电科星拓科技有限公司

申请日：2023-12-18

公开（公告）日：2024-02-13

公开（公告）号：CN117422029B

主分类号：G06F30/3312

分类号：G06F30/3312

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.02.13#授权;2024.02.06#实质审查的生效;2024.01.19#公开

摘要：本发明公开了一种eFuse控制模块的验证方法。为解决现有技术对芯片验证时存在验证盲点、验证功能点不完备等技术问题，本发明通过产生不同读写模式的随机数据激励序列和合法范围内的随机时序激励序列，并通过驱动器对二者组合后以随机时序发送至eFuse控制模块的接口和参考模型的接口，在比较结果计分板中，对比eFuseIP的输出数据与eFuse控制模块中寄存器数据、eFuse控制模块的接口和寄存器数据与参考模型的接口和寄存器数据，最后检查前述仿真所生成的日志和波形，确定是否发生时序违例，克服现有技术缺陷，解决了eFuse控制模块的验证技术问题，提升了芯片在流片前的验证准确性和全面性。本发明适于芯片验证领域。

主权项：1.一种eFuse控制模块的验证方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1：获取待验证eFuseIP的行数、列数、接口真值表，以及时序表，根据这些特征计算并产生不同读写模式的随机数据激励序列和合法范围内的随机时序激励序列；步骤S2：生成测试平台，其包含eFuse控制模块、eFuseIP和验证环境，其中验证环境包括数据发生器、时序发生器、驱动器、内置eFuseIP的参考模型，以及比较结果计分板；步骤S3：通过仿真实现：驱动器接收数据发生器生成的随机数据激励序列和时序发生器生成的随机时序激励序列，对二者组合后以随机时序发送至eFuse控制模块的接口和参考模型的接口；步骤S4：在比较结果计分板中，对比eFuseIP的输出数据与eFuse控制模块中寄存器数据，检查二者是否一致；步骤S5：在比较结果计分板中，对比eFuse控制模块的接口和寄存器数据与参考模型的接口和寄存器数据，检查二者是否一致；步骤S6：检查前述仿真所生成的日志和波形，确定是否发生时序违例。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 成都电科星拓科技有限公司 eFuse控制模块的验证方法

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