申请/专利权人:安靠科技新加坡控股私人有限公司
申请日:2023-09-13
公开(公告)日:2024-03-19
公开(公告)号:CN117727706A
主分类号:H01L23/31
分类号:H01L23/31;H01L23/13;H01L23/48;H01L23/488;H01L21/60;H01L21/50;H01L21/56
优先权:["20220917 US 17/947,109"]
专利状态码:在审-公开
法律状态:2024.03.19#公开
摘要:半导体装置及制造半导体装置的方法。在一个实例中,半导体装置包含衬底。所述衬底包含:基底,其包含顶侧以及与所述顶侧相对的空腔侧;引线,其从所述空腔侧延伸;以及包封物,其插入所述引线之间。电子组件位于所述空腔侧上并且与所述包封物间隔开。本文中还公开其它实例和相关方法。
主权项:1.一种半导体装置,其特征在于,包括:衬底,其包括:基底,其包括顶侧以及与所述顶侧相对的空腔侧;引线,其从所述空腔侧延伸;以及包封物,其插入所述引线之间;以及电子组件,其位于所述空腔侧上并且与所述包封物间隔开。
全文数据:
权利要求:
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