申请/专利权人：重庆大学

申请日：2023-12-21

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117740630A

主分类号：G01N15/02

分类号：G01N15/02;G06T17/20;G01N23/04

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本发明公开了一种基于透射电镜的晶粒三维表征方法，首先通过透射电镜获取样品的晶粒系列倾转角度下的图像，重构晶粒的三维图像，并获得样品坐标系下晶粒的界面信息，然后倾转样品使其分别处于三个非共线晶带轴方向并获得倾转参量，根据三个非共线晶带轴的取向信息获得参考取向参量，并根据倾转参量和参考取向参量获得样品坐标系到样品的晶体坐标系的转换参量，进一步根据样品坐标系下晶粒的界面信息和转换参量获得在样品的晶体坐标系下晶粒的界面信息，对三维图像进行赋色，进而在三维图像中展示出晶粒界面的晶体学取向特征。本发明基于透射电镜三维重构技术和关联晶体学分析方法实现晶粒几何特征和晶体学特征的三维定量集成表征。

主权项：1.一种基于透射电镜的晶粒三维表征方法，其特征在于，包括：通过透射电镜获取样品的晶粒系列倾转的图像，根据获得的所述图像重构在样品坐标系下描述的、包含所述晶粒的形貌信息的三维图像，并根据所述三维图像获得在所述样品坐标系下所述晶粒的界面信息，所述样品坐标系是以所述透射电镜对所述样品成像时所述样品倾转轴以及平行于电子束入射方向的轴线为坐标轴建立的三维坐标系；倾转所述样品分别使所述样品处于三个非共线晶带轴方向，获得所述样品从样品初始位置倾转到三个非共线晶带轴方向的倾转参量，以及根据所述样品三个非共线晶带轴的晶体学取向信息获得所述样品的参考取向参量，并根据所述参考取向参量和所述倾转参量获得所述样品坐标系到所述样品的晶体坐标系的转换参量，所述样品处于晶带轴方向是指电子束入射方向与所述样品的晶带轴平行；根据所述样品坐标系下所述晶粒的界面信息和所述转换参量，获得在所述样品的晶体坐标系下所述晶粒的界面信息；根据在所述样品的晶体坐标系下所述晶粒的界面信息，对所述三维图像进行赋色，在所述三维图像中展示出所述晶粒界面的晶体学取向特征。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 重庆大学 一种基于透射电镜的晶粒三维表征方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD