申请/专利权人：苏州元脑智能科技有限公司

申请日：2023-11-30

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117805580A

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要：本发明提供一种芯片对比测试装置和方法，属于芯片测试技术领域，装置包括：上位机单元，用于向下位机单元发送测试指令；下位机单元，用于响应于测试指令，通过连接器单元发送测试信号至可替换模组；连接器单元，用于下位机单元和可替换模组间的插拔连接；可替换模组通过连接器单元与下位机单元连接，并与示波器单元连接，可替换模组为被测芯片所在单元，被测芯片包括被测主芯片和被测替代芯片；示波器单元，用于获取被测芯片对应的测试波形，并将测试波形发送至上位机单元；上位机单元，还用于对测试波形进行对比分析，输出对比分析结果。本发明可以提高替代芯片测试效率、缩短测试周期和降低测试成本。

主权项：1.一种芯片对比测试装置，其特征在于，包括：上位机单元、下位机单元、连接器单元、可替换模组、示波器单元和供电单元，其中，所述上位机单元分别与所述下位机单元和示波器单元连接，用于向所述下位机单元发送测试指令；所述下位机单元分别与所述上位机单元和所述连接器单元连接，用于接收所述测试指令，响应于所述测试指令，通过所述连接器单元发送测试信号至所述可替换模组；所述连接器单元分别与所述下位机单元和可替换模组连接，用于所述下位机单元和可替换模组间的插拔连接；所述可替换模组通过连接器单元与所述下位机单元连接，所述可替换模组还与所述示波器单元连接，所述可替换模组为被测芯片所在单元，其中，所述被测芯片包括被测主芯片和被测替代芯片；所述示波器单元用于获取所述被测芯片对应的测试波形，并将所述测试波形发送至所述上位机单元；所述上位机单元还用于获取所述示波器单元输出的测试波形，对所述测试波形进行对比分析，输出所述被测主芯片和被测替代芯片的对比分析结果；所述供电单元分别与所述下位机单元和可替换模组连接，用于为所述下位机单元和可替换模组供电。

全文数据：

权利要求：

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