申请/专利权人：中国空间技术研究院

申请日：2023-12-22

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117854577A

主分类号：G11C29/56

分类号：G11C29/56;G01R31/00;G01R19/00;G11C29/50

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：在实际工程测试中，一般采用外接的直流电源分析仪来对器件的电流进行实时监测，体积笨重且价格昂贵，而且还需要外接复杂的线缆，杂乱无序，不利于实际试验的开展。为解决器件实际测试过程中遇到的工程问题，本发明提出了一种基于电流监测的3DNAND存储器辐照效应测试装置，并提供了完整的硬件实现电路，在设计硬件测试电路时新增一种电流监测模块，实时观测实验中3DNAND存储器的电学参数变化，可以省掉辐照实验中专门用于给3DNAND存储器电流监测的直流电源分析仪设备，使用简便，节约成本，提高测试效率。

主权项：1.一种基于电流监测的3DNAND存储器辐照效应测试装置，其特征在于，包括：电源模块，接收外部输入电压并转为3DNAND存储器需要的电压，根据控制模块信号关断或打开为3DNAND存储器供电；电流监测模块，接收控制模块发送的信号，实时监测3DNAND存储器的电流，并将采集的电流信号发送至数据处理模块；数据处理模块，用于接收电流信号并对电流信号进行处理、存储，并将数据传送到上位机，实时观测3DNAND存储器的电学参数变化；控制模块，接收上位机发送过来的控制信号，控制电源模块关断或启动。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国空间技术研究院 一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试装置及方法

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