申请/专利权人：纽威仕微电子(无锡)有限公司

申请日：2023-08-25

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN220773213U

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G01R1/073

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权

摘要：本实用新型涉及检测装置技术领域，具体为一种双探针芯片测试装置，其能够快速完成芯片测试，提高效率，降低劳动强度，其包括测试平台和测试设备，所述测试平台上设置有定位块和竖向布置的无杆气缸，所述定位块两侧分别设置有真空吸附口，所述无杆气缸上安装有可升降的测试盒，所述测试盒的左侧内壁上安装有固定块、右侧内壁上设置有活动块，所述活动块连接所述测试盒内壁的测试气缸，所述固定块上插装有第一探针，所述活动块上插装有第二探针，所述第一探针和所述第二探针分别通过导线连接所述测试盒顶部的转接头，所述转接头与所述测试设备电控连接。

主权项：1.一种双探针芯片测试装置，其包括测试平台和测试设备，其特征在于，所述测试平台上设置有定位块和竖向布置的无杆气缸，所述定位块两侧分别设置有真空吸附口，所述无杆气缸上安装有可升降的测试盒，所述测试盒的左侧内壁上安装有固定块、右侧内壁上设置有活动块，所述活动块连接所述测试盒内壁的测试气缸，所述固定块上插装有第一探针，所述活动块上插装有第二探针，所述第一探针和所述第二探针分别通过导线连接所述测试盒顶部的转接头，所述转接头与所述测试设备电控连接。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 纽威仕微电子(无锡)有限公司 一种双探针芯片测试装置

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