申请/专利权人：株洲中车时代半导体有限公司

申请日：2023-07-11

公开（公告）日：2024-02-20

公开（公告）号：CN220509086U

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G01R31/52;G01R1/04

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.02.20#授权

摘要：本实用新型属于电力电子器件测试的技术领域，具体涉及一种GCT芯片阴极短路筛选装置及GCT芯片测试设备，包括第一筛选工装和第二筛选工装，第一筛选工装包括用于与GCT芯片阴极整体接触的导电结构；第二筛选工装包括底座二和设置在底座二上的导电件二，所述导电件二为环形，导电件二设置有数个，数量与GCT芯片上阴极梳条的圈数相同，且数个导电件二在底座二上的位置与GCT芯片上阴极梳条的各圈位置对应，本实用新型操作起来方便，能够节省测试时间，提高测试效率，并且无需设置三坐标等移动机构，整体结构简单，制造成本低。

主权项：1.一种GCT芯片阴极短路筛选装置，其特征是，包括：第一筛选工装，所述第一筛选工装包括用于与GCT芯片10阴极整体接触的导电结构；第二筛选工装，所述第二筛选工装包括底座二3和设置在底座二3上的导电件二4，所述导电件二4为环形，导电件二4设置有数个，其数量与GCT芯片10上阴极梳条101的圈数相同，且数个导电件二4在底座二3上的位置与GCT芯片10上阴极梳条101的各圈位置对应。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 株洲中车时代半导体有限公司 一种GCT芯片阴极短路筛选装置及GCT芯片测试设备

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