申请/专利权人：中国科学院高能物理研究所

申请日：2021-06-29

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN113447976B

主分类号：G01T1/29

分类号：G01T1/29

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.02#授权;2021.10.22#实质审查的生效;2021.09.28#公开

摘要：本发明涉及一种高分辨率慢正电子束形貌的测量方法及装置，属于束流测量技术领域，解决了现有技术中慢正电子束流的诊断精度受探测器分辨率的限制，诊断精度低的问题。该方法包括：根据慢正电子束的目标形貌图像的像素数及稀疏度确定束流掩膜板的数量，并确定每一束流掩膜板对应的稀疏二进制随机矩阵；将慢正电子束流分别照射每一束流掩膜板对应获得多个伽马光子数值；基于每一束流掩膜板的稀疏二进制随机矩阵以及对应的伽马光子数值进行图像重建获得慢正电子束的形貌图像。该方法通过提高束流掩膜板的分辨率从而提高慢正电子束流的形貌图像分辨率，很大程度上提高了诊断精度。

主权项：1.一种高分辨率慢正电子束形貌的测量方法，其特征在于，包括：根据慢正电子束的目标形貌图像的像素数及稀疏度确定束流掩膜板的数量，并确定每一所述束流掩膜板对应的稀疏二进制随机矩阵；将慢正电子束流分别照射每一所述束流掩膜板对应获得多个伽马光子数值；基于每一束流掩膜板的稀疏二进制随机矩阵以及对应的伽马光子数值进行图像重建获得慢正电子束的形貌图像；所述基于每一束流掩膜板的稀疏二进制随机矩阵以及对应的伽马光子数值进行图像重建获得慢正电子束的形貌图像包括：基于每一所述束流掩膜板对应的稀疏二进制随机矩阵获得对应的观测矩阵，根据该观测矩阵和稀疏矩阵获得对应的测量矩阵；所述稀疏矩阵为所述慢正电子束的形貌图像与其对应的稀疏图像矩阵间的转换矩阵；将所述多个伽马光子数值对应组成一维纵向向量，进而获得观测图像矩阵，根据该观测图像矩阵及所述测量矩阵利用空间追踪算法计算获得所述慢正电子束的形貌图像对应的稀疏图像矩阵；对获得的所述稀疏图像矩阵进行反稀疏变换以获得所述慢正电子束的形貌图像对应的原图像矩阵，进而获得所述慢正电子束的形貌图像；根据慢正电子束的目标形貌图像的像素数及稀疏度通过下述公式确定束流掩膜板的数量：M＝OKlogN，其中，N表示所述慢正电子束的目标形貌图像的像素数，K表示所述慢正电子束的目标形貌图像的稀疏度，M表示束流掩膜板的数量，O表示高阶无穷小函数；所述确定每一所述束流掩膜板对应的稀疏二进制随机矩阵包括：根据约束等距性条件估算得到束流掩膜板对应的矩阵中元素1的个数；根据所述元素1的个数随机生成与多个所述束流掩膜板对应的多个维度相同的稀疏二进制随机矩阵，使每一该稀疏二进制随机矩阵中的元素1的个数与所述估算得到的束流掩膜板对应的矩阵中元素1的个数一致；所述将慢正电子束流分别照射每一所述束流掩膜板对应获得多个伽马光子数值包括：根据获得的多个所述稀疏二进制随机矩阵对应制作多个束流掩膜板；将慢正电子束流垂直入射所述束流掩膜板，并经该束流掩膜板后入射至慢正电子湮没靶发生湮没产生沿4π立体角空间传播的伽马光子；利用至少一个伽马光子探测器进行探测获得所述伽马光子数值；遍历每一所述束流掩膜板对应探测获得多个所述伽马光子数值。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院高能物理研究所 一种高分辨率慢正电子束形貌的测量方法及装置

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