申请/专利权人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
申请日:2022-09-30
公开(公告)日:2024-04-12
公开(公告)号:CN117881269A
主分类号:H10N60/01
分类号:H10N60/01
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开
摘要:本发明提供一种分步刻蚀的约瑟夫森结制备方法,至少包括:1提供衬底,于衬底表面依次沉积第一超导材料层、势垒层、第二超导材料层;2利用光刻和显影工艺,在第二超导材料层表面形成第一光刻胶图形,将第一光刻胶图形作为掩模,刻蚀部分第二超导材料层,以形成上电极和覆盖势垒层的超导薄层,去除第一光刻胶图形;3利用光刻和显影工艺,在上电极和超导薄层表面形成第二光刻胶图形,将第二光刻胶图形作为掩模,依次刻蚀超导薄层和势垒层,去除第二光刻胶图形;4刻蚀第一超导材料层,以形成下电极。本发明在刻蚀势垒层之前,在其表面保留了很薄的一层超导材料层,可以隔绝光刻显影时势垒层与显影液的反应,避免生成黑色反应物。
主权项:1.一种分步刻蚀的约瑟夫森结制备方法,其特征在于,所述制备方法至少包括:1提供衬底,于所述衬底表面依次沉积第一超导材料层、势垒层、第二超导材料层;2利用光刻和显影工艺,在所述第二超导材料层表面形成第一光刻胶图形,将所述第一光刻胶图形作为掩模,刻蚀部分所述第二超导材料层,以形成上电极和覆盖所述势垒层的超导薄层,去除所述第一光刻胶图形;3利用光刻和显影工艺,在所述上电极和所述超导薄层表面形成第二光刻胶图形,将所述第二光刻胶图形作为掩模,依次刻蚀所述超导薄层和所述势垒层,暴露出所述第一超导材料层表面,去除所述第二光刻胶图形;4刻蚀所述第一超导材料层,以形成下电极。
全文数据:
权利要求:
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