申请/专利权人：中国空间技术研究院

申请日：2023-12-22

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117809731A

主分类号：G11C29/56

分类号：G11C29/56;G06F13/16

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要：在实际开展存储器可靠性试验时，为了减少测试时间及成本，本发明提出一种基于高性能FPGA的3DNAND可靠性并行测试方法，利用FPGA并行处理能力，同时向多个3DNAND发送读、写等命令信号，并获取3DNAND在接收到读命令信号后产生的数据；同时内置轮换式交替访问算法，通过在控制程序中预先定义优先级，实现对指定的某一块或多块3DNAND存储器进行控制，以预置的轮询算法进行并行访问，可以对多块NANDFlash以不同的强度进行访问，进而可以在一次试验中，在较少的试验时间内，得出多种不同场景下的芯片特性，提高测试灵活性。本发明可实现并行处理多个3DNAND的可靠性测试，缩短测试时间，提高测试效率和灵活性。

主权项：1.一种轮换式交替访问3DNAND存储器可靠性并行测试方法，其特征在于，包括：利用并行处理FPGA向多个待测的3DNAND发送命令信号，获取所有待测的3DNAND在接收到读命令信号后产生的运行数据；按预设优先级，对所有待测的3DNAND的运行数据实施轮换式交替访问算法，实现对所有存储器的并行均匀访问，得出多种不同场景下的芯片功能和性能特性。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国空间技术研究院 一种轮换式交替访问3D NAND存储器可靠性并行测试方法

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