申请/专利权人：瑞萨电子株式会社

申请日：2016-01-22

公开（公告）日：2020-07-03

公开（公告）号：CN105988076B

主分类号：G01R31/28(20060101)

分类号：G01R31/28(20060101)

优先权：["20150318 JP 2015-054607"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2020.07.03#授权;2018.03.20#实质审查的生效;2016.10.05#公开

摘要：本发明的各个实施例涉及半导体装置和设计装置。在压缩扫描中，在不降低检测效率的情况下，减少了测试步骤的数量。半导体装置包括：一个或者多个扫描链，其中每个扫描链包括串联连接的一个或者多个MMSFF；以及组合电路；并且半导体装置可以在扫描移位操作与捕获操作之间切换。MMSFF包括：MUX，该MUX选择外部输入的外部输入测试信号和经由在相同扫描链中的前面级中的MMSFF输入的移位测试信号中的一个；以及FF，该FF输出外部输入测试信号和移位测试信号中的已经被MUX选择了的一个信号。

主权项：1.一种半导体装置，包括：一个或者多个扫描链，所述一个或者多个扫描链包括串联连接的一个或者多个扫描触发器；组合电路，控制电路；以及压缩器，其中所述一个或者多个扫描触发器中的扫描触发器被配置为在扫描移位操作与捕获操作之间选择性地切换，所述扫描移位操作用于使得在所述一个或者多个扫描链的扫描链中的所述一个或者多个扫描触发器作为移位寄存器操作，而所述捕获操作用于捕获来自所述组合电路的输出，其中所述扫描触发器包括：选择单元，所述选择单元被配置为在所述扫描移位操作中选择外部输入测试信号或者移位测试信号，所述外部输入测试信号是外部输入的，而所述移位测试信号是经由在相同扫描链的前面级中的所述扫描触发器输入的；以及触发器，所述触发器被配置为输出已经被所述选择单元选择的所述外部输入测试信号或者所述移位测试信号，以及其中所述选择单元根据基于来自所述扫描链的输出而输入到所述选择单元的扫描使能信号，在所述扫描移位操作与所述捕获操作之间选择性地切换，其中所述压缩器被配置为连接至所述扫描链的输出侧，以压缩和转换来自所述扫描链的所述输出，并且其中所述控制电路将控制信号提供至所述选择单元，以选择所述外部输入测试信号和所述移位测试信号中的一个，并且进一步将另一控制信号提供至所述压缩器，以根据所述扫描链的数量来改变压缩比。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 瑞萨电子株式会社 半导体装置和设计装置

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