申请/专利权人:华中科技大学
申请日:2019-09-30
公开(公告)日:2020-07-28
公开(公告)号:CN110687630B
主分类号:G02B6/122(20060101)
分类号:G02B6/122(20060101);G02B6/136(20060101);G02B6/132(20060101);G02B6/13(20060101);G02B6/12(20060101)
优先权:
专利状态码:失效-未缴年费专利权终止
法律状态:2022.09.20#未缴年费专利权终止;2020.02.11#实质审查的生效;2020.01.14#公开
摘要:本发明属于半导体制造领域,公开了一种应用于三维光互连的SOI衬底及其制备方法,其中SOI衬底包括自上而下键合相连的上硅片1和下硅片9,在上硅片1和下硅片5相键合连接的区域还具有埋层氧化层;在上硅片1内设置有两套微反射镜的阵列,在下硅片9内设置有硅光通孔的阵列;两套微反射镜的阵列中的一套阵列与位于下硅片9内的硅光通孔阵列在竖直方向上一一对应,用于实现该SOI衬底的层内波导与该SOI衬底的硅光通孔的光信号连接;另一套微反射镜阵列用于实现该SOI衬底的层内波导与三维器件中上一层SOI衬底的硅光通孔的光信号连接。本发明利用硅光通孔与层内波导之间光转向的微反射镜阵列,能够提升三维光互连芯片的性能。
主权项:1.一种应用于三维光互连的SOI衬底,其特征在于,该SOI衬底包括自上而下键合相连的上硅片1和下硅片9,在所述上硅片1和所述下硅片9相键合连接的区域还具有埋层氧化层;该SOI衬底能够与其他若干个同样的SOI衬底进行堆叠形成三维器件;对于该SOI衬底:在所述上硅片1内设置有两套微反射镜的阵列,在所述下硅片9内设置有硅光通孔的阵列;所述两套微反射镜的阵列分别位于所述上硅片1的上侧和下侧,其中,位于所述上硅片1下侧的微反射镜阵列与位于所述下硅片9内的硅光通孔阵列在竖直方向上一一对应,用于实现该SOI衬底的层内波导与该SOI衬底的硅光通孔的光信号连接;所述上硅片1上侧的微反射镜阵列用于实现该SOI衬底的层内波导与键合在其上方的三维器件中另一同样SOI衬底的硅光通孔的光信号连接。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 华中科技大学 一种应用于三维光互连的SOI衬底及其制备方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。