申请/专利权人：西安翰源辰芯半导体技术有限公司

申请日：2023-08-23

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN220626469U

主分类号：G01R1/04

分类号：G01R1/04;G01R31/12;G01R31/26;H05K7/20

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权

摘要：本实用新型公开了一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置，包括测试台、调节组件，所述测试台外壁安装有调节组件，所述调节组件包括：第一电机、滚珠丝杆、限位滑杆和第一滑块，所述测试台外壁侧面安装有第一电机，所述第一电机外壁侧面安装有第一转轴，所述第一转轴外壁套装有滚珠丝杆，所述测试台内壁侧面安装有限位滑杆，所述滚珠丝杆外壁套装有第一滑块，且第一滑块套装在限位滑杆外壁。本实用新型通过安装有测试台、调节组件，实现了对正负测试块的间距调节功能，解决了正负测试块间距不能调节因此需要人工扳动半导体分立器件引脚改变间距导致半导体分立器件损坏的问题，提高半导体分立器件使用寿命。

主权项：1.一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置，包括测试台1、调节组件，其特征在于：所述测试台1外壁安装有调节组件，所述调节组件包括：第一电机5、滚珠丝杆502、限位滑杆503和第一滑块504，所述测试台1外壁侧面安装有第一电机5，所述第一电机5外壁侧面安装有第一转轴501，所述第一转轴501外壁套装有滚珠丝杆502，所述测试台1内壁侧面安装有限位滑杆503，所述滚珠丝杆502外壁套装有第一滑块504，且第一滑块504套装在限位滑杆503外壁。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 西安翰源辰芯半导体技术有限公司 一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置

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